汇总测量阶段后面两个部分2.3和2.4的内容，覆盖测量系统分析的知识点。
工作实战案例1：客户玻璃、贴OCA的玻璃在905nm的透过率T，客户认为从单片到双片玻璃，T下降了1%，那这1%中，测量系统波动贡献多少，OCA胶带贡献了多少？
工作举例：针对以上的连续MSA，要考虑UV-Vis设备本身（同一时间，不同校准之间），相同玻璃不同位置的透过率，操作人员，OCA不同位置的透过率。 假如发现UV-Vis的分辨率不足（平行测试波动有点大），就应该用多次测试的平均值，进行后续的数据分析。
工作实战案例2：
主讲老师：袁老师，2013年接触六西格玛，2015年跟着詹老师，参加新加坡MBB；后来跟着欧老师参加夏社堂和商社堂。 思维上的转变（想起分层聚焦，从源头寻找问题解决点）。
2.3 评估测量系统
测量系统分析MSA：
what is MSA
测量系统分析：分辨系统因素和随机因素在测量结果中的贡献分别是多少。
MSA并不是单纯对量具的分析，而是对完整的测量过程的分析，所以涉及到操作、材料、人员、环境等输入项。
why use MSA
评估变异：流程变异，量具之间的变异，辅助决策等。
既要避免把不合格的产品发给客户（漏检风险），又要避免把好的产品视为不良品（误检风险）。
区分过程波动和测量系统波动的占比，两者在实际测试中的彼此关系如下图所示；据此确认产品的公差上下限。
when use MSA
我的理解是：数据对比，都要明白随机误差的贡献是否可以被忽视。有时候不做MSA，但需要知道MSA的贡献是否可以被忽略。
可以根据MSA的结果，进一步细化MSA中的变异因素，比如根据人机料法环进行测量变异的进一步细化。
how to use MSA
连续MSA 与 属性MSA（离散MSA）
连续MSA
分辨率：米尺和游标卡尺的测量精度；
选择设备的经验法则：（1）六西格玛分布的十分之一，（2）德系建议公差带宽的20分之一。这两者是相通的，对于过程能力Cp=T/6sigma=2时，两种方法是一样的。具体再根据过程能力的好坏，调整。特别是分辨率不足，即Cp<2时，临时的解决方案就是基于中心极限定理，使用多次测量的平均值！
分辨率不足的情况： （小芳系列的文章，哪篇？）
准确性:
偏移: 测量值和真值之间的差异
线性:不同位置的测量偏移差异, y=a+bx, 斜率b的p值大于0.05, 说明斜率b不显著,接受零假设b=0.
量具能力指标Cg/Cgk：使用标准件进行设备的量具能力指数分析。
- 标准件
- 标准件的参考值
- 重复测量25-50次
- 计算Cg/Cgk，通常要求Cgk>1.33
课程举例：供应商和客户量具之间的差异，可以进行偏移和非线性分析，明确两种量具之间不一样，然后使用回归拟合分析，找到两种设备测量结果之间的相关性，从而建立两种设备的规格的重新设定。一开始供应商的规定是“斜率<3mm”,研究之后改成”客户端斜率<3mm， 而供应商的检测标准调整为<2.5mm”.
稳定性:量具能力随时间的变化, 用SPC控制图, 还可以定期分析Cgk (比如一个设备要不要送外标准,可以先做一个Cgk分析,判断稳定性是否依然足够).
主讲老师：王利俭，医药行业，商舍堂MBB，疫情期间跟随詹老师学习DOE等，然后跟随欧老师学习商舍堂。
区分 准确性 与 精确性
精确性：包括重复性、再现性。
使用GRR，分析测量系统变异在总变异中的贡献； 使用P/T分析测量系统变异在公差中的贡献。
MSA步骤：
2.4 过程能力分析
2023-2-19 周六两讲，主讲人：宋明亮
为什么要研究过程能力：确定流程能力，是否可以持续地产出顾客所期望的产品；基于能力指数，判断流程好坏（改进前后），估计缺陷率等。
过程能力的表征手段：Cp，和Cpk
Cp=公差/实际流程变异= （USL-LSL）/6sigma，可以使用汽车入库打比方，汽车宽度和车库门口的宽度的比较，Cp=1时，公差=6sigma，完全没有弹性； Cp=2，是六西格玛水平，入库失败率是百万分之6.7
使用能力指数Cpk，研究“偏”的流程，保证在偏的情况下，依然能保证达到Cp>2的水平；如果出现“偏”的情况， Cpk就会降低；使用两者的比值Cpk/Cp，就可以量化“偏”的程度。
Cpk就是偏离程度大的一半计算Cp的过程。
Cp和Cpk的关系：
- 计算原理类似，Cp计算整个过程，Cpk计算偏离严重的一侧； 如果没有偏离，即样本平均值正好等于目标值，则Cpk=Cp
- 越靠近LSL或USL，Cpk越小，所以“偏”的流程，Cpk<Cp，用Cpk解释中心偏移。
- 对于具备6sigma质量水平的流程而言，要求Cp>=2.0， Cpk>=1.5
研究过程能力的步骤
计算Cp和Cpk的几个前提：流程稳定（数据随时间的稳定性）、数据独立、符合正态分布，前两者情况都要先解决，对于不正态的情况，可以用Box-Cox进行数据转换。
如何进行正态性检验：minitab – 统计 – 正态性检验和统计 — 图形化汇总
过程能力指数Cp，Cpk和过程绩效指数Pp和Ppk
- 用工艺的标准方差，计算Cp；考虑工艺均值和公差的偏移情况，计算出Cpk
- 用样品的标准方差，计算Pp；考虑样品均值和公差的偏移情况，计算出Ppk
- Cp和Pk，只显示过程产出的离散程度和可接受标准（公差）的关系
- Cpk和Ppk，还关注偏离程度，产出的均值是否偏离可接受标准的中间值。
- 因为偏移，所以Cpk<Cp，Ppk<Pp
计算六西格玛功效：六西格玛质量水平，和能力指数的置信区间
Q1： Design expert如何进行正态性检验？
实战：OCA thickness, calculate Cp and Cpk
非正态分布情况能力分析
Box-cox转化
百分位能力
Z水平
设计能力记分卡及系统能力预测
关键特性，关键参数，使用设计能力记分卡
DFSS记分卡
- 流程
- 性能
- 系统
- 部件
2023-5-21 先将之前的学习笔记发布，之后查看回放和资料再更新